[发明专利]一种基于自准直成像法光学镜头畸变的检测方法

摘要

本发明公开了一种基于自准直成像法光学镜头畸变的检测方法，该方法主要由目标及探测系统、被测光学镜头、平面反射镜、控制处理系统、平面反射镜联接件、数控转台、五维调整台及一维数控平移台等组成。目标及探测系统的出射目标点调至被测光学镜头的焦面上形成基准像点，经被测光学镜头及平面反射镜后自准直像点为测量像点，当两像点重合时，一维数控平移台和数控转台的位置(x0，θ0)。测量时，目标及探测系统随一维数控平移台移动距离x1，旋转数控转台，使两像点重合，记下数控转台的示值(θ1)，依次移动一维数控平移台(x2，x3，……)，重合上述操作，记下数控转台的示值(θ2，θ3，……)。经计算，得出被光学系统的畸变。提高了畸变检测精度。

主权项

1.一种基于自准直成像法光学镜头畸变的检测方法，其特征在于：包括步骤为：步骤一、构建检测系统，检测系统包含：目标及探测系统(1)、被测光学镜头(2)、平面反射镜(3)、控制处理系统(4)、平面反射镜联接件(5)、数控转台(6)、五维调整台(7)和一维数控平移台(8)；一维数控平移台(8)安装在五维调整台(7)上，安装在一维数控平移台(8)上的目标及探测系统(1)发的光经被测光学镜头(2)后经平面反射镜(3)反射后再经被测光学镜头(2)回到目标及探测系统(1)形成一像点；平面反射镜(3)用平面反射镜联接件(5)联接在数控转台(6)的工作台上；数控转台(6)的转轴与被测光学镜头(2)的出瞳中心重合，旋转数控转台(6)，使平面反射镜(3)的反射面与被测光学镜头(2)的光轴垂直，记下一维数控平移台(8)和数控转台(6)的位置(x0，θ0)，并记下目标及探测系统(1)上像点位置A点；步骤二、测量时，目标及探测系统(1)随一维数控平移台(8)移动距离x1，旋转数控转台(6)，使经平面反射镜(3)反射回的自准直像与原目标像位置A重合，记下数控转台(6)的示值θ1，依次移动一维数控平移台(8)至(……，x－3，x－2，x－1，x0，x1，x2，x3，……)中的某一距离，同时记下数控转台(6)的示值，得到(……，θ－3，θ－2，θ－1，θ0，θ1，θ2，θ3，……)，经计算，得出被光学系统的畸变。