[发明专利]光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法在审

专利信息
申请号: 201811348432.6 申请日: 2018-11-13
公开(公告)号: CN109211404A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 邹峰;孙振皓;李迪迪;宋平;沙清宇 申请(专利权)人: 徐州诺派激光技术有限公司
主分类号: G01J3/18 分类号: G01J3/18;G01M11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 221300 江苏省徐州市邳*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法,其中,光纤光栅测试系统包括:ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位,对光纤光栅进行批量测试,结构简单,易于操作。
搜索关键词: 光纤光栅 测试系统 光谱仪 性能测试 合束器 环形器 反射光 布拉格条件 传输 光栅 测试工位 宽带光谱 批量测试 波长 反射 测试
【主权项】:
1.一种光纤光栅测试系统,其特征在于,包括:ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。
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