[发明专利]一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法有效
| 申请号： | 201811347645.7 | 申请日： | 2018-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN109521295B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 吕贺;李鹏伟;孙明;张洪伟;梅博;于庆奎;李兴冀;杨剑群 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01N1/44 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张晓飞 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法，包括步骤：1)获得所述待测试对象辐照前的电参数测试结果；2)制作成多个辐照试验线路板，分别进行不同剂量率、不同偏置的电离辐照试验，获得多个辐照剂量点的电参数测试结果；3)确定所述待测试对象的电参数退化量的比值和待测试对象的电参数退化可靠性影响因子；4)根据电参数退化量的比值和电参数退化可靠性影响因子，判定所述待测试对象是否具有低剂量率辐照损伤增强效应。本发明通过分别进行高低剂量率辐照试验，获得高低剂量率的对比数据，考虑元器件参数退化因子及低剂量率辐射损伤增强因子的大小，获得宇航用元器件是否具有低剂量率辐照损伤增强效应的评判结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 剂量率 辐照 损伤 增强 效应 判定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法，所述待测试对象为同类型同批次含双极工艺的元器件，其特征在于，包括步骤如下：1)获得所述待测试对象辐照前的电参数测试结果；2)将多个同类型同批次待测试对象制作成多个辐照试验线路板；将所述多个辐照试验线路板分组，分别进行不同剂量率、不同偏置的电离辐照试验，获得多个辐照剂量点的电参数测试结果；3)根据所述步骤1)获得的所述辐照前的电参数测试结果和步骤3)获得的多个辐照剂量点的电参数测试结果，确定所述待测试对象的电参数退化量的比值和待测试对象的电参数退化可靠性影响因子；4)根据所述步骤3)确定的电参数退化量的比值和电参数退化可靠性影响因子，判定所述待测试对象是否具有低剂量率辐照损伤增强效应。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空间技术研究院，未经中国空间技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811347645.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
