[发明专利]一种非易失性存储器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201811345719.3 申请日: 2018-11-13
公开(公告)号: CN111180448B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 陈耿川 申请(专利权)人: 合肥晶合集成电路股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 刘星
地址: 230012 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种非易失性存储器及其制作方法,该非易失性存储器的浮栅结构位于字线结构的一侧,自下而上依次包括第二栅介电层及第二导电层,第二导电层具有第一、第二尖锐部及位于二者之间的尖锐凹陷部;擦除栅结构位于浮栅结构上方,自下而上依次包括隧穿介电层及第三导电层,隧穿介电层包覆第一、第二尖锐部的尖端部分,并填充进尖锐凹陷部,第三导电层在对应于尖锐凹陷部位置处具有第三尖锐部。本发明的非易失性存储器采用分栅结构,有利于减小器件尺寸,在编程操作时,浮栅的两个尖锐部可以显著增强浮栅与擦除栅之间的FN隧穿效应,在擦除操作时,擦除栅的尖锐部可以实现电子通过FN隧穿的方式自擦除栅注入至浮栅。
搜索关键词: 一种 非易失性存储器 及其 制作方法
【主权项】:
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