[发明专利]一种机载摆扫式高光谱数据快速几何校正方法

摘要

本发明公开了一种机载摆扫式高光谱数据快速几何校正方法，涉及高光谱数据几何校正及应用技术领域。该方法利用DEM数据在无地面控制点的情况下，实现了对机载高光谱数据的系统级几何校正，同时，采用局部匹配算法有效优化了系统级几何校正的处理效率，进一步提升了航空高光谱数据几何校正的效率和精度，而且采用本发明提供的方法，可以实现对多景航空高光谱数据进行工程化批量化处理，为工程化应用提供了解决方案。

主权项

1.一种机载摆扫式高光谱数据快速几何校正方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，从原始高光谱影像中提取高信噪比的单波段影像；S2，利用DEM数据和GPS数据，生成系统级几何校正控制点：S3，利用系统级几何校正控制点对所述单波段影像进行校正，得到单波段系统级几何校正影像；S4，将高分辨率影像作为参考影像，将单波段系统级几何校正影像作为待校正影像，利用待校正影像与参考影像同名点地理信息以及S2中得到的系统级几何校正控制点，采用逆变换方式生成几何精校正控制点；S5，利用几何精校正控制点对高光谱原始数据进行处理，得到几何校正后的高光谱影像；S2包括如下步骤：S201，按照如下公式计算传感器在高度h条件下的扫描向量其中，为初始坐标系下扫描向量，为机体坐标系下扫描向量，R、P、H分别代表翻滚角ω、俯仰角偏航角κ的变换矩阵，上式中各项展开后变形为：其中，s为扫描方向，θ为扫描向量与星下点方向夹角；S202，按照如下公式计算传感器扫描行中各个像元的真实扫描向量其中，h为传感器相对地面的高度值；S203，根据DEM数据和传感器GPS数据，计算得到任一DEM像元点对于传感器的扫描向量S204，按照如下公式寻找与最接近的扫描向量得到传感器扫描像元对应DEM像元的真实坐标信息：S205，按照S204的方法遍历所有的像元，得到原始影像的地理查找表，获得系统级几何校正控制点。