[发明专利]一种利用斜蒸发加工薄膜结构的方法有效
| 申请号: | 201811307483.4 | 申请日: | 2018-11-05 |
| 公开(公告)号: | CN109440067B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
| 发明(设计)人: | 王文杰;李舒啸;谢武泽;安宁;李倩;曾建平 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院电子工程研究所 |
| 主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/04 |
| 代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 蒋斯琪 |
| 地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种利用斜蒸发加工薄膜结构的方法,本发明属于薄膜结构处理技术领域,包括清洗步骤、覆胶步骤、曝光步骤、显影步骤、镀膜步骤和剥离步骤,是一种利用斜蒸发处理薄膜结构的方法,以实现微纳尺寸特定、参数可控的侧面薄膜的蒸镀,而满足实际需求的蒸发蒸镀微纳柱侧边膜结构的方法。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 利用 蒸发 加工 薄膜 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用斜蒸发加工薄膜结构的方法,其特征在于,包括如下步骤:清洗步骤,清洗带有微纳柱结构的基片;覆胶步骤,在经过清洗步骤的基片上旋涂一层能通过低剂量电子束进行曝光的光刻胶Ⅰ,然后进行烘烤使光刻胶Ⅰ覆在基片表面,然后再旋涂一层能通过高剂量电子束进行曝光的光刻胶Ⅱ,然后进行烘烤使光刻胶Ⅱ覆在光刻胶Ⅰ表面;曝光步骤,通过控制电子束的剂量对经过覆胶步骤后的基片上的光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ按照设计形状进行曝光形成掩膜结构图形,掩膜结构图形中间位置采用高剂量电子束进行曝光,使得中间位置的光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ均被曝光,靠近基片的微纳柱结构侧壁的位置则采用低剂量电子束进行曝光,仅有下层的光刻胶Ⅰ被曝光去除掉,而上层光刻胶Ⅱ形成悬胶结构阻挡层;显影步骤,将经过曝光步骤的基片放入显影液中进行显影,在曝光步骤中被高剂量电子束曝光过的光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ以及被低剂量电子束曝光过的光刻胶Ⅰ部分被显影液溶解,使基片上的光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ按照掩膜结构图形显影出图像窗口,图像窗口底部露出基片上表面;镀膜步骤,将经过显影步骤的基片贴在蒸镀盘上,用电子束蒸发或者热蒸发蒸镀的方法、通过基片的图像窗口处根据需求向基片的微纳柱结构镀上薄膜材料,且镀膜过程中电子束与基片的上表面之间形成0~90°的夹角;剥离步骤,将经过蒸发步骤的基片在剥离液中剥离剩余的光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ及镀膜步骤中附在光刻胶Ⅰ和光刻胶Ⅱ上的薄膜材料,仅留下附着在微纳柱上的薄膜结构。
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