[发明专利]基于模糊C均值聚类的低副瓣单脉冲直线阵天线综合方法有效

专利信息
申请号: 201811295554.3 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN109446672B 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 张立;翁子彬;崔超奕;杨米米;焦永昌 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于模糊C均值聚类的低副瓣单脉冲直线阵天线综合方法,主要解决现有技术耗时长且所得峰值副瓣电平高的问题,其实现方案包括:1)初始化参数,并计算直线阵差方向图及峰值副瓣电平;2)优化差方向图并求优化后的差方向图激励;3)判断峰值副瓣电平是否小于初始化中的约束值,对优化后的直线阵分组,得子阵划分方式与每个子阵中阵因子单元数,并由优化后的差方向图激励求子阵激励;4)更新差方向图激励和迭代次数,判断当前迭代次数是否大于初始化的最大迭代次数,得到3)中的结果。本发明通过两种算法对低副瓣单脉冲直线阵进行天线综合,提高了综合速度,且能得到更低峰值副瓣电平,可用于对单脉冲直线阵列天线的设计。
搜索关键词: 基于 模糊 均值 低副瓣单 脉冲 直线 天线 综合 方法
【主权项】:
1.一种基于模糊C均值聚类的低副瓣单脉冲直线阵天线综合方法,包括如下:(1)初始化:(1a)根据待设计的单脉冲直线阵的规模和复杂度设置最大迭代次数T,将初始迭代次数设置为t=0;(1b)根据待设计的单脉冲直线阵的规模和工程要求,设置单脉冲直线阵副瓣电平约束值SLL0和半个阵列的子阵数量Q;(1c)将单脉冲直线阵列沿x轴排列,且中心位于坐标原点,按不连续单元划分方式将处于+x轴的半个阵列划分为Q个子阵,位于‑x轴半个阵列的子阵所含有天线单元数目与子阵激励由对称性得到,即设置初始激励为均匀反对称AN‑n+1=‑AN+n=1,采用道尔夫‑切比雪夫综合法Dolph‑Chebyshev得到阵列的和方向图激励其中N表示半个阵列的阵因子单元数;(2)对真实差方向图激励An作K点逆傅里叶变换,得到单脉冲直线阵的差方向图函数fdif(u),并计算出该fdif(u)的峰值副瓣电平:PSLL=max(fdif(u)),其中:为真实差方向图激励,为阵列的差方向图激励,k表示真空中的波数,d表示单元间距,u=sinθ为方向角θ的正弦函数,θ是从z轴正方向开始计算的角度,表示阵列的和方向图激励,wq表示第q个子阵的激励,为Kronecker函数,cn表示第n个阵因子单元所在的子阵位置,其取值为[1,Q]范围内的整数,max表示取最大值操作;(3)将单脉冲直线阵的差方向图函数fdif(u)中超过约束值SLL0的点置成一个比约束值SLL0小的数值,并保持其相位信息不变,得到调整后的差方向图函数记为f′dif(u);(4)对调整后的差方向图函数f′dif(u)作K点傅里叶变换并截断N个点,得到位于+x轴半个阵列的差方向图激励A′n;(5)判断(3)中得到的峰值副瓣电平PSLL是否小于约束值SLL0,如果是,则执行(6),否则,跳转到(9);(6)使用模糊C均值聚类算法FCM将位于+x轴半个阵列的差方向图激励数列{A′n}分为Q组,得到阵列的Q个子阵的划分方式数列{cn}与每个子阵中阵因子单元总数Neq;(7)更新位于+x轴半个阵列的差方向图激励为Bn:(7a)计算每个子阵的输入激励:(7b)根据每个子阵的输入激励wq,更新位于+x轴半个阵列的差方向图激励为:(8)根据更新后的+x轴半个阵列差方向图激励B′n,利用反对称性得到位于‑x轴半个阵列的差方向图激励B″n,由更新后的+x轴半个阵列的差方向图激励B′n和‑x轴半个阵列的差方向图激励B″n,得到更新后总阵列的真实差方向图激励Bn,令总阵列的真实差方向图激励An=Bn,跳转到(10);(9)根据+x轴半个阵列差方向图激励A′n,利用反对称性得到位于‑x轴半个阵列的差方向图激励A″n,由+x轴半个阵列的差方向图激励A′n和‑x轴半个阵列的差方向图激励A″n,得到总阵列的真实差方向图激励An,执行(10);(10)将当前迭代次数t与最大迭代次数T进行比较:如果t>T,则终止,得到低副瓣单脉冲直线阵的最优子阵划分方式数列{cn}与每个子阵中阵因子单元总数Neq以及子阵激励幅度wq,否则,令t=t+1,返回(3)。
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