[发明专利]一种芯片测试装置及方法有效
| 申请号： | 201811294239.9 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109342928B | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 蒋书波;刘方远;陈路 | 申请（专利权）人： | 南京工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/54 |
| 代理公司： | 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙) 32278 | 代理人： | 钱伟 |
| 地址： | 210000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置及方法，芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板上还包括电源电路、OSC频率放大电路、分频器电路、AD转换电路、SD卡存储电路、TFT彩屏显示电路。针对不同封装的芯片，只需要制作新的芯片测试底座即可对芯片进行测试。本发明的芯片测试装置及方法，调试周期短，只需要一个月左右，针对不同封装的芯片，只需要制作新的测试夹具即可，针对年产量在500万以下的产品，测试成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括芯片测试板、芯片测试底座、微控制器、开发板、上位机；芯片测试板上安装有芯片测试底座，芯片通过芯片测试底座将引脚引出，微控制器通过芯片测试底座连接芯片各引脚；芯片测试板分别连接开发板和上位机，开发板向芯片测试板输入信号，上位机通过串行接口与芯片测试板通信。
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