[发明专利]一种基于2×2像素子阵列的3D图像传感器缺陷检测修复方法有效
| 申请号： | 201811286299.6 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109472078B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 高静;顾天宇;朱婧瑀;徐江涛 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F30/36 | 分类号： | G06F30/36;H04N17/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 张义 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于2×2像素子阵列的3D图像传感器缺陷检测修复方法，所述方法采用4×4操作窗口，所述窗口中的中心4个像素为待检测像素，周围12个像素为辅助修复的外围像素，对窗口中每个像素位置进行编号；该窗口以从左到右，从上到下的顺序每次按一个像素单位进行移位，重复进行检测与修复操作；在每次窗口操作中，利用外围像素对4个待检测像素进行整体的状态判断和修复。本算法利用4*4的操作窗口，可以实现对2*2的缺陷像素块整体的检测和修复，有效避免了传统修正方式中“用缺陷修正缺陷”的情况，增强了对2*2缺陷块的修复效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 像素 阵列 图像传感器 缺陷 检测 修复 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于2×2像素子阵列的3D图像传感器缺陷检测修复方法，其特征在于，所述方法采用4×4操作窗口，所述窗口中的中心4个像素为待检测像素，周围12个像素为辅助修复的外围像素，对窗口中每个像素位置进行编号；该窗口以从左到右，从上到下的顺序每次按一个像素单位进行移位，重复进行检测与修复操作；在每次窗口操作中，利用外围像素对4个待检测像素进行整体的状态判断和修复。
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