[发明专利]一种基于小凹系统的位姿检测系统有效
| 申请号： | 201811259461.5 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109556574B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 常军;武楚晗;张晓芳;黄一帆 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00;G01C21/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 李爱英;仇蕾安 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于小凹系统的位姿检测系统，包括标志点装置、成像镜头、小凹系统、探测器和计算设备；标志点装置固定于待检测元件的目标位置处；成像镜头对包含标志点装置和待检测元件的场景成像；小凹系统通过改变小凹模块所处的通光孔径区域内的局部焦距从而对标志点装置进行局部放大成像；探测器采集小凹系统所成的图像信息；计算设备对探测器采集的图像进行解算，获得待检测元件的位姿信息，本发明能够解决位姿检测方案中成本高、调试难、系统复杂度高的问题，同时又实现高精度快速成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 系统 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于小凹系统的位姿检测系统，其特征在于，包括标志点装置、成像镜头、小凹系统、探测器和计算设备；标志点装置固定于待检测元件的目标位置处；成像镜头对包含标志点装置和待检测元件的场景成像；小凹系统通过改变小凹模块所处的通光孔径区域内的局部焦距从而对标志点装置进行局部放大成像；探测器采集小凹系统所成的图像信息；计算设备对探测器采集的图像进行解算，获得待检测元件的位姿信息。
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