[发明专利]测量装置有效

专利信息
申请号: 201811256548.7 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN109725024B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 冈田敦彦;鬼塚佳代子 申请(专利权)人: 拉碧斯半导体株式会社
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够精度良好地多方面地测量测量对象的状态的测量装置。具备:第一电极以及第二电极,它们用于在表侧形成经由测量对象的通电路径并测量上述测量对象的导电度;以及参照电极以及ISFET,它们用于测量上述测量对象的pH值,上述参照电极的基准电极与上述第一电极以及上述第二电极相比配置在背侧。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
1.一种测量装置,其特征在于,具备:第一电极以及第二电极,它们用于在表侧形成经由测量对象的通电路径并测量上述测量对象的导电度;以及参照电极以及ISFET,它们用于测量上述测量对象的pH值,上述参照电极的基准电极与上述第一电极以及上述第二电极相比配置在背侧。
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