[发明专利]全光二维量化和编码的方法、系统和电子设备

摘要

本发明实施例提供一种全光二维量化和编码的方法、系统和电子设备，方法包括：任一幅度量化模块基于获取到的对应的任一光信号，通过多个判决门限获取所述任一光信号对应的第一编码，其中，所述任一光信号通过多路阵列滤波器获取；基于所有幅度量化模块获取的所有光信号对应的第一编码，获取第二编码，完成全光二维量化和编码。本发明实施例提供的全光二维量化和编码的方法、系统和电子设备，设置通过多个判决门限获取所述任一光信号对应的第一编码，能够避免现有技术中的采用单路判决只能粗略估计中心波长所处的位置，采用多个判决门限能够避免出现误码的情况，使得最终获取的第二编码更加准确。

主权项

1.一种全光二维量化和编码的方法，其特征在于，包括：/n任一幅度量化模块基于获取到的对应的任一光信号，通过多个判决门限获取所述任一光信号对应的第一编码，其中，所述任一光信号通过多路阵列滤波器获取；/n基于所有幅度量化模块获取的所有光信号对应的第一编码，获取第二编码，完成全光二维量化和编码；/n其中，所述任一幅度量化模块基于获取到的对应的任一光信号，通过多个判决门限获取所述任一光信号对应的第一编码，具体包括：/n任一幅度量化模块基于获取到的对应的任一光信号，通过三个判决门限划分的四个信号强度空间，获取所述任一光信号的信号强度落入的信号强度空间对应的第一编码；其中，所述三个判决门限通过下述步骤获取：/n以光孤子中心波长为横坐标，以幅度量化模块获取到的对应的光信号的信号强度为纵坐标，建立平面直角坐标系；/n根据来自多路阵列滤波器中任意三个相邻通道的三个光信号，在所述平面直角坐标系中获取所述三个光信号对应的三段曲线，所述三段曲线为第一曲线、第二曲线和第三曲线；/n获取第一曲线和第二曲线的第一交点，以及第二曲线和第三曲线的第二交点，判断所述第一交点的纵坐标数值和所述第二交点的纵坐标数值是否相同，若所述第一交点的纵坐标数值和所述第二交点的纵坐标数值相同，则将所述第一交点的纵坐标数值或者所述第二交点的纵坐标数值作为第一判决门限，若所述第一交点的纵坐标数值和所述第二交点的纵坐标数值不相同，则将所述第一交点的纵坐标数值和所述第二交点的纵坐标数值的平均值作为第一判决门限；/n获取所述第一交点和所述第二交点的连线组成的线段的两个三等分点，分别根据每一三等分点作所述横坐标的垂线，获取第一垂线和第二垂线，获取所述第一垂线和所述第二曲线的第三交点以及所述第二垂线和所述第二曲线的第四交点，判断所述第三交点的纵坐标数值和所述第四交点的纵坐标数值是否相同，若所述第三交点的纵坐标数值和所述第四交点的纵坐标数值相同，则将所述第三交点的纵坐标数值或者所述第四交点的纵坐标数值作为第二判决门限，若所述第三交点的纵坐标数值和所述第四交点的纵坐标数值不相同，则将所述第三交点的纵坐标数值和所述第四交点的纵坐标数值的平均值作为第二判决门限；/n获取所述第一垂线和所述第一曲线的第五交点以及所述第二垂线和所述第三曲线的第六交点，判断所述第五交点的纵坐标数值和所述第六交点的纵坐标数值是否相同，若所述第五交点的纵坐标数值和所述第六交点的纵坐标数值相同，则根据所述第五交点或所述第六交点作所述纵坐标的垂线，获取第三垂线，获取所述第三垂线与所述第二曲线的第七交点和第八交点，将所述第七交点的纵坐标数值或者所述第八交点的纵坐标数值作为第三判决门限，若所述第五交点的纵坐标数值和所述第六交点的纵坐标数值不相同，则获取第一点，所述第一点的横坐标为任意值，纵坐标为所述第五交点的纵坐标数值和所述第六交点的纵坐标数值的平均值，根据所述第一点作所述纵坐标的垂线，获取第四垂线，获取所述第四垂线与所述第二曲线的第九交点和第十交点，将所述第九交点的纵坐标数值或者所述第十交点的纵坐标数值作为第三判决门限。/n