[发明专利]一种基于ATE系统的集成电路测试与监控方法在审
| 申请号： | 201811195108.5 | 申请日： | 2018-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN111044878A | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 欧阳睿;许秋林;肖金磊;王清智;解辰;朱万才 | 申请（专利权）人： | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/316;G01R31/3163 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于ATE系统的集成电路测试与监控技术，其中，ATE系统包括ATE设备、测试探卡、工作站、晶圆和探针台，该集成电路测试与监控技术改进了集成电路CP测试，默认TRIM档位输出值的收集处理，通过与晶圆上芯片的所有模拟电路默认TRIM档位下输出值数据的历史有效范围值进行比较获取其分布区间，并依此进行分Bin作业，获取测试良率。同时，在监控良率时，该集成电路测试与监控技术还结合所有模拟电路默认TRIM档位下的输出值数据Bin的分布情况，能够更清晰直观地获得测试工艺或测试系统波动方向和程度，并能够直接检测到测试中的极端异常情况，为测试质量控制提供有力保障，避免异常芯片的漏出。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 系统 集成电路 测试 监控 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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