[发明专利]天线装置以及测量方法有效

专利信息
申请号: 201811188988.3 申请日: 2018-10-12
公开(公告)号: CN109669077B 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 野田华子 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 郑海涛
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供天线装置,在被测量装置的发送接收性能的评价中,能够在近场进行EVM的测量,同时能够在近场测量被测量装置的接收灵敏度。用于评价具有以规定的间隔排列的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性的天线装置,包括:天线(210),接收被测量装置经由阵列天线发射的调制信号、或者对阵列天线发射调制信号;移动装置(200),使天线在形成与配置了多个天线元件的阵列天线的平面平行的xy面的相互垂直的x轴和y轴、与该平面垂直的z轴的方向上移动;以及控制单元(500),进行控制,以通过移动装置,使天线移动到近场的区域内调制信号的群延迟失真降低的位置。
搜索关键词: 天线 装置 以及 测量方法
【主权项】:
1.一种天线装置,用于评价具有以规定的间隔排列为平面状的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性,其特征在于,所述天线装置包括:天线(210),接收所述被测量装置经由所述阵列天线发射的调制信号,或者对所述阵列天线发射调制信号,所述天线被配置在近场的区域内与所述调制信号的群延迟失真降低的所述多个天线元件形成的平面相垂直的z轴上的位置。
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