[发明专利]一种基于x-ray检测技术的全方位检测设备及其检测方法

摘要

本发明公开了一种基于x‑ray检测技术的全方位检测设备，属于检测装置技术领域，解决了现有技术中的x‑ray检测设备，穿透了差，防护等级低，不能直接更换射线源来提高分辨率，在检测过程中，微型贴片元件无法清楚的判断焊接状况，或者是焊盘气泡无法检出的问题，其技术要点是：包括从外向内、从下至上依次设置机壳外罩部分、探测器升降机构、承载平台部分、x‑ray发射器升降机构；本发明的上下部X/Y/Z六轴联动，实现全方位检测，方便不同倍率图像分析，可以满足最大限度的倾斜和观察物体，获得高分辨率画质，避免辐射泄漏的发生，便于维护，同时可方便扩展为在线检测模式。

主权项

1.一种基于x‑ray检测技术的全方位检测设备，其特征在于,包括机壳外罩部分、x‑ray发射器升降机构、承载平台部分和探测器升降机构，从外向内、从下至上依次为：机壳外罩部分、探测器升降机构、承载平台部分、x‑ray发射器升降机构；所述探测器升降机构包括上部X轴模组(11)、上部Z轴模组(12)、激光灯(13)、导轨(14)、平板探测器(15)和上部Y轴拖链(16)，平板探测器(15)与上部Z轴模组(12)上联动设置；所述x‑ray发射器升降机构包括下部X轴拖链(17)、下部X轴模组(18)、光管防护罩(19)、光管发射器(20)、下部Z轴升降模组(21)、下部Y轴模组(22)和下部Y轴拖链(23)。