[发明专利]一种基于自适应随机测试的并发缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201811184521.1 | 申请日： | 2018-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN109522097B | 公开（公告）日： | 2023-03-07 |
| 发明（设计）人： | 杨杨;王赞 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F9/46 | 分类号： | G06F9/46;G06F11/14 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于自适应随机测试的并发缺陷检测方法，包括：获取一条结果为正确的完整序列C |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 自适应 随机 测试 并发 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于自适应随机测试的并发缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取一条结果为正确的完整序列C0，对每个执行过程中的状态si，展开它的可执行集合记为Enabled(si)，表示在程序状态为si时，下一步能够触发执行的所有语句集合；计算完整序列C0和每一个已执行子序列之间的距离dist，选择最远的N个子序列继续展开，执行其状态下对应Enabled(si)集合中的某一个语句，其他的子序列会被删除，不再继续执行后续程序语句；当程序执行结束时，会搜索得到一个resultSeqs集合，该集合存储了程序执行中的所有结果，另一个集合correctSeqs存储执行结果为正确的完整序列，用于在搜索的过程中计算距离；执行下一次的迭代搜索，直到找出错误序列，检测出了并发缺陷，然后记下P‑度量的值或程序全部执行完没有检查到缺陷。
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