[发明专利]液晶材料离子密度的测试方法有效
| 申请号： | 201811182018.2 | 申请日： | 2018-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN109031732B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 李建;安忠维;胡明刚;李娟利;杨晓哲;万丹阳;莫玲超;车昭毅 | 申请（专利权）人： | 西安近代化学研究所 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01N21/59;G01N21/21 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 梁勇 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶材料中离子密度的测试方法。通过对不同类型介电常数的液晶材料，选择合适的液晶分子取向方式和液晶测试盒，对注有液晶材料的测试盒施加三角波电压，得到电压‑电流曲线，对其中离子运动电流峰面积积分，获得离子密度数值。该方法避免了液晶分子指向矢旋转带来的电流峰干扰，解决了液晶材料中残留离子的定量测试难题。本发明适用于液晶材料的质量可靠性测试评价，尤其是液晶材料中离子密度的测试评价。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 材料 离子 密度 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶材料离子密度的测试方法，其特征在于步骤如下：(1)对介电常数为正值的液晶材料，将液晶材料注入垂直取向的测试盒中，对液晶测试盒施加低频三角波，检测测试盒的电流随外加电压的变化情况，获得液晶材料中的离子运动曲线，对离子峰面积积分计算得到离子密度数值；(2)对介电常数为负值的液晶材料，将液晶材料注入平行或90度扭曲取向的测试盒中，对液晶测试盒施加低频三角波，检测测试盒的电流随外加电压的变化情况，获得液晶材料中残留的离子运动曲线，对离子峰面积积分计算得到离子密度数值。
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