[发明专利]一种芯片批量快速检测装置

摘要

本发明公开了芯片检测技术领域的一种芯片批量快速检测装置，包括检测外壳，所述检测外壳内腔左侧开设有滑槽，所述滑槽内腔左侧活动连接有支撑板，所述检测外壳内腔顶部左侧安装有与滑槽位置相匹配的液压伸缩板，所述液压伸缩板底部均匀安装有检测针，所述检测外壳内腔中部左侧安装有主动轮，所述主动轮后端面安装有有伺服电机，与往复移动装置连接的固定杆一与固定杆二带动清理刷对厚度检测槽一和厚度检测槽二上被阻挡的芯片进行清理，将厚度检测槽一上的芯片通过清理刷移动到次品收集箱二内腔中，被厚度检测槽二阻挡的厚度合格芯片通过清理刷移动到合格品收集箱内腔中，及时将合格品与次品分别放入对应收集箱，避免散乱难以区分。

主权项

1.一种芯片批量快速检测装置，包括检测外壳(1)，其特征在于:所述检测外壳(1)内腔左侧开设有滑槽(2)，所述滑槽(2)内腔左侧活动连接有支撑板(3)，所述检测外壳(1)内腔顶部左侧安装有与滑槽(2)位置相匹配的液压伸缩板(4)，所述液压伸缩板(4)底部均匀安装有与支撑板(3)相匹配的检测针(5)，所述检测外壳(1)内腔中部左侧安装有主动轮(6)，所述主动轮(6)后端面安装有电机，所述主动轮(6)通过传动带(8)与从动轮(7)传动连接，所述从动轮(7)右侧底部设置有斜板(9)，所述斜板(9)底部安装有次品收集箱一(18)，所述斜板(9)右侧安装有厚度检测槽一(10)与厚度检测槽二(11)，且厚度检测槽一(10)位于厚度检测槽二(11)上方，所述检测外壳(1)右侧安装有伺服电机(12)，所述伺服电机(12)左侧输出端安装有转动轴(13)贯穿检测外壳(1)连接有往复移动装置(14)，所述往复移动装置(14)左侧顶部与底部分别安装有固定杆一(15)与固定杆二(16)，所述固定杆一(15)与固定杆二(16)远离往复移动装置(14)一端均安装有清理刷(17)，顶部所述清理刷(17)与厚度检测槽一(10)顶部贴合，底部所述清理刷(17)与厚度检测槽二(11)顶部贴合，所述斜板(9)底部从左往右分别安装有次品收集箱二(20)、合格品收集箱(19)与次品收集箱一(18)，所述次品收集箱二(20)与顶部清理刷(17)位置相匹配，所述合格品收集箱(19)与底部清理刷(17)位置相匹配，所述检测外壳(1)内腔左侧底部安装有次品收集箱三(21)，所述检测外壳(1)内腔顶部中部开设有下滑槽(22)。