[发明专利]用于评估电容式传感器电极的电容值的方法在审
| 申请号： | 201811156444.9 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN109683022A | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 贝特霍尔德·西格 | 申请（专利权）人： | 胡夫·许尔斯贝克和福斯特有限及两合公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李骥;车文 |
| 地址： | 德国费*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于评估电容式传感器电极的电容值的方法。该方法包括具有下列步骤的评估过程：‑执行对传感器电极的充电过程，‑评估与传感器电极的电容值相关的参数。第一耦合和脱耦周期的由第一耦合持续时间tK,1和第一脱耦持续时间tE,1组成的第一充电脉冲持续时间tL,1，tL,1＝tK,1+tE,1，和紧随第一耦合和脱耦周期之后的第二耦合和脱耦周期的由第二耦合持续时间tK,2和第二脱耦持续时间tE,2组成的第二充电脉冲持续时间tL,2，tL,2＝tK,2+tE,2，彼此间偏差了第一脉冲持续时间偏差量ΔtL,1。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合 脱耦 电容 电容式传感器电极 传感器电极 充电脉冲 评估 时间偏差量 充电过程 评估过程 脉冲 | ||
【主权项】：
1.一种用于评估电容式传感器电极的电容值的方法，其中，评估过程具有下列步骤：‑执行对传感器电极的充电过程，其中，所述传感器电极在多个耦合和脱耦周期中与充电回路耦合了耦合持续时间tK，并且与充电回路脱耦了脱耦持续时间tE，其中，在耦合和脱耦周期中，在所述耦合持续时间tK期间进行对所述传感器电极的至少部分的充电，并且其中，在所述脱耦持续时间tE期间不进行对所述传感器电极的充电，‑评估与所述传感器电极的电容值相关的参数，其特征在于，第一耦合和脱耦周期的由第一耦合持续时间tK,1和第一脱耦持续时间tE,1组成的第一充电脉冲持续时间tL,1，tL,1＝tK,1+tE,1，和紧随第一耦合和脱耦周期之后的第二耦合和脱耦周期的由第二耦合持续时间tK,2和第二脱耦持续时间tE,2组成的第二充电脉冲持续时间tL,2，tL,2＝tK,2+tE,2，彼此间偏差了第一脉冲持续时间偏差量ΔtL,1。
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