[发明专利]一种全相分析仪装置

摘要

本发明提供了一种全相分析仪装置，包括位于分析仪机箱外侧的调试支架，该调试支架包括调节横板，调节横板外表面设置有一道位移装配槽，调试支架可位移装配在位移装配槽内；调试支架包括调试基板、承托架及设置在承托架内的两个转轮；调试基板底部设置有与装配在位移装配槽内的基板滑块；调试基板侧方设置有承托架，承托架两侧各设置有一块L型托板，两个转轮之间形成夹持出线缆的夹持空间。本发明所述的调试支架可直接设置在全相分析仪的外壳上，通过控制调试支架的位置实现对外部线缆的定位和调整，该调试支架结构简单、具有良好的扩展性，除了对线缆进行稳定限位还可以对多根线缆进行统一梳理和定位。

主权项

1.一种全相分析仪装置，其特征在于：包括位于分析仪机箱外侧的调试支架，该调试支架包括调节横板，调节横板外表面设置有一道位移装配槽，调试支架可位移装配在位移装配槽内；调试支架包括调试基板、承托架及设置在承托架内的两个转轮；调试基板底部设置有与装配在位移装配槽内的基板滑块，基板滑块具有与位移装配槽槽体相匹配的外廓，调试基板及基板滑块一体成型，调试基板与基板滑块上设置有贯穿的固定孔，固定螺栓穿过固定孔并抵压在位移装配槽槽底面使调试基板固定在调试横板上；调试基板侧方设置有承托架，承托架两侧各设置有一块L型托板，L型托板上端通过轮支架设置有一个转轮，L型托板的底部短板向外侧延伸，两个转轮之间形成夹持出线缆的夹持空间。