[发明专利]一种复合基材及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811146713.3 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN109280881B 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 周意;吕游;尚伦霖;张广安;鲁志斌;刘建北;张志永;丰建鑫 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: C23C14/02 分类号: C23C14/02;C23C14/06;C23C14/16;C23C14/18;C23C14/35
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李坤
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开提供了一种复合基材,包括:Apical基底;DLC薄膜阻性材料层,形成于所述Apical基底上;金属过渡层,形成于所述DLC薄膜阻性材料层上;铜薄膜层,形成于所述金属过渡层上。本公开还提供了一种复合基材的制备方法,包括:步骤S1:在Apical基底表面溅射沉积DLC薄膜阻性材料层;步骤S2:在所述DLC薄膜阻性材料层表面溅射沉积铬薄膜材料以及铬铜共掺薄膜材料,形成金属过渡层;以及步骤S3:在所述金属过渡层表面溅射沉积铜薄膜层。
搜索关键词: 金属过渡层 阻性材料 复合基材 溅射沉积 铜薄膜层 基底 制备 薄膜材料 基底表面 铬薄膜 铬铜 共掺
【主权项】:
1.一种复合基材,其特征在于,包括:/nApical基底;APICAL基底材料的厚度为50μm;/nDLC薄膜阻性材料层,形成于所述Apical基底上;DLC薄膜阻性材料层厚度为100纳米;/n金属过渡层,形成于所述DLC薄膜阻性材料层上;/n铜薄膜层,形成于所述金属过渡层上;铜薄膜层的厚度为4.3微米;所述金属过渡层包括:铬薄膜层以及形成于铬薄膜层上的铬铜共掺薄膜层;铬薄膜层的厚度为100nm~200nm,通过在DLC薄膜阻性材料层上溅射铬靶5-10分钟得到。/n
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