[发明专利]基于在轨推扫的红外图像的非均匀校正方法、装置、系统及应用有效

专利信息
申请号: 201811123294.1 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109186777B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 张丽莎;龙亮;赵号;封宇航;粘伟;王哲;吴立民 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 范晓毅
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于在轨推扫的红外图像的非均匀校正方法、装置、系统及应用,属于红外遥感探测技术领域。所述方法包括:获取单线列红外图像,所述单线列红外图像包括线列探测器旋转90°后所有像元对同一星下点的单个图像;根据所述单线列红外图像确定预校正系数;根据所述预校正系数校正原始图像,所述原始图像为各所述像元同时推扫所得的二维红外图像;对预校正后的图像进行恒定统计校正,得到非均匀性校正后的图像。本发明实现了定标源与目标区域的自适应匹配,有效抑制空间噪声达到时间噪声水平,提高了校正精度,同时,该方法不需要大型的外场定标源,易于实现。
搜索关键词: 基于 轨推扫 红外 图像 均匀 校正 方法 装置 系统 应用
【主权项】:
1.一种基于在轨推扫的红外图像的非均匀校正方法,其特征在于,包括:获取单线列红外图像,所述单线列红外图像包括线列探测器旋转90°后所有像元对同一星下点的单个图像;根据所述单线列红外图像确定预校正系数;根据所述预校正系数校正原始图像,所述原始图像为各所述像元同时推扫所得的二维红外图像;对预校正后的图像进行恒定统计校正,得到非均匀性校正后的图像。
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