[发明专利]一种极片的测厚方法

摘要

本发明提供了一种可以更严格控制涂布厚度和均匀性的极片的测厚方法。所述极片的测厚方法沿极片的横向设置了多个测量区域，并得到各个区域的面密度值和所有测量区域的面密度均值，从而控制涂布机的涂布口做出相应的及时相应的调整，可以更严格控制涂布厚度和均匀性。

主权项

1.一种极片的测厚方法，其特征在于，包括以下步骤；S1、在极片的传送区域上沿与极片传送方向垂直的方向设置至少两个的测量区域；S2、将至少两个的涂布口沿与极片传送方向垂直的方向依次设于所述测量区域的上游，并将至少两个的涂布口与至少两个的测量区域分别一一对应设置；S3、涂布口持续出料，对极片进行涂布；S4、测厚仪器依次测量极片在所述测量区域上的浆料的测量面密度值；S5、通过测量区域上的浆料的测量面密度值，计算得到所有测量区域的测量面密度均值，判断测量面密度均值与预设面密度均值是否相等，若测量面密度值与预设面密度均值相等，执行步骤S9，若测量面密度均值与预设面密度均值不相等，则执行步骤S6；S6、判断测量面密度均值是否小于预设面密度均值，若测量面密度均值小于预设面密度均值，则执行步骤S7，否则执行步骤S8；S7、增加所有涂布口的出料，执行步骤S4；S8、减少所有涂布口的出料，执行步骤S4；S9、判断是否所有测量区域上的测量面密度值都与预设面密度均值相同，若所有测量区域上的测量面密度值都与预设面密度均值相同，则执行步骤S3，否则执行步骤S10；S10、将所有测量面密度值小于预设面密度均值的测量区域设为第一组测量区域，将所有测量面密度值大于预设面密度均值的测量区域设为第二组测量区域，执行步骤S11；S11、增加与第一组测量区域对应的涂布口的出料，减少与第二组测量区域对应的涂布口的出料，执行步骤S4。