[发明专利]一种基于光谱的化学机械平坦化在线终点检测方法在审

专利信息
申请号: 201811097884.1 申请日: 2018-09-20
公开(公告)号: CN109262445A 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 顾海洋;王东辉;古枫;林胜强 申请(专利权)人: 杭州众硅电子科技有限公司
主分类号: B24B37/013 分类号: B24B37/013
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李吉宽
地址: 311305 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于光谱的化学机械平坦化在线终点检测方法。首先根据被抛薄膜和基底材料的折射率n、消光系数k和目标膜厚d计算出理论光谱曲线,然后选取该曲线的一段波长区域,计算该区域内所有相对反射率极大值点对应的波长值λhi和极大值点对应的波长个数a、相对反射率极小值点对应的波长值λlk和极小值点对应的波长个数b。实时采集抛光过程中的原始光谱数据,得到滤波光谱曲线,选取相同波长区域的滤波光谱曲线区域的对应参数,并计算两组数据之间的差异值。如果该值小于预先设定的阈值,则停止平坦化过程。本发明可以排除检测光强信号变化带来的干扰,不用对检测光谱做归一化处理,减少了运算时间,同时提升信号的检测精度和检测一致性。
搜索关键词: 波长 光谱 化学机械平坦化 波长区域 极大值点 滤波光谱 终点检测 反射率 检测 原始光谱数据 归一化处理 基底材料 理论光谱 抛光过程 曲线区域 实时采集 提升信号 消光系数 信号变化 检测光 目标膜 平坦化 折射率 两组 薄膜 运算
【主权项】:
1.一种基于光谱的化学机械平坦化在线终点检测方法,其特征在于,包含以下步骤:S1:根据被抛薄膜和基底材料的折射率n、消光系数k和设定晶圆平坦化后的膜厚d计算出理论光谱曲线;S2:选取理论光谱曲线的一段波长区域,计算:选取区域内所有相对反射率极大值点对应的波长值λhi和极大值点对应的波长个数a、选取区域内相对反射率极小值点对应的波长值λlk和极小值点对应的波长个数b;S3:抛光过程中实时采集原始光谱数据,得到一条反映相对反射率和波长关系的原始光谱曲线,并对该光谱曲线进行滤波,得到一条平滑的滤波光谱曲线;S4:参照步骤2中对理论光谱曲线的处理方式,选取相同波长区域的滤波光谱曲线区域,计算:选取区域内所有相对反射率极大值点对应的波长值λhi’和极大值点对应的波长个数a’、选取区域内相对反射率极小值点对应的波长值λlk’和极小值点对应的波长个数b’;S5:判断是否a=a’且b=b’,如否,返回步骤S3;如是,计算两组数据之间的差异值S;S6:判断S是否小于预先设定的阈值,如否,则返回步骤S3;如是,则设备停止平坦化过程。
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