[发明专利]电学参数计量方法、装置、充电设备和存储介质有效
| 申请号： | 201811086590.9 | 申请日： | 2018-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN109254201B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 李建勇 | 申请（专利权）人： | 易维德科（北京）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R22/06 | 分类号： | G01R22/06 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 朱五云 |
| 地址： | 100120 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电学参数计量方法、装置、充电设备和存储介质。该方法包括：获取当前接入充电设备的待充电设备的个数；其中，一个待充电设备与一个充电电路组成一个充电支路；根据待充电设备的个数，分时控制每个充电支路的上电时间，以测量得到不同上电时刻下的各个已上电的充电支路上的测量电学参数；以及获取不同上电时刻下充电设备的总电学参数；根据总电学参数、控制电路上的控制电学参数和不同上电时刻下的各个已上电的充电支路上的测量电学参数，计算每个充电支路上的电学参数纠正量，并根据每个充电支路上的电学参数纠正量以及每个充电支路上的测量电学参数计算每个充电支路上的实际电学参数。该方法提高了电学参数测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 电学 参数 计量 方法 装置 充电 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种电学参数计量方法，其特征在于，获取当前接入充电设备的待充电设备的个数；其中，一个待充电设备与一个充电电路组成一个充电支路；根据所述待充电设备的个数，分时控制每个充电支路的上电时间，以测量得到不同上电时刻下的各个已上电的充电支路上的测量电学参数；以及获取不同上电时刻下所述充电设备的总电学参数；其中，所述充电设备在一个上电时刻下的总电学参数等于所述一个上电时刻下各个已上电的充电支路的实际电学参数与所述充电设备中控制电路上的控制电学参数之和；根据所述总电学参数、所述控制电路上的控制电学参数和所述不同上电时刻下的各个已上电的充电支路上的测量电学参数，计算每个充电支路上的电学参数纠正量，并根据每个充电支路上的电学参数纠正量以及每个充电支路上的测量电学参数计算所述每个充电支路上的实际电学参数。
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