[发明专利]基于窗谱估计的退化数据一致性检验法有效

专利信息
申请号: 201811047983.9 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN110889083B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 冯静;孙权 申请(专利权)人: 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18;G01N3/08
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 李冉
地址: 410100 湖南省长沙市长沙经济技术*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 加速贮存退化试验的重要假设之一是产品在正常应力和加速应力下贮存时具有相同的失效机理。两种应力条件下失效机理一致性检验是进行加速贮存退化试验设计的重要前提,也是解决长贮产品贮存寿命预测的关键问题和基础问题。本发明提出了一种基于等时间间隔退化增量残差序列窗谱估计的加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验法。方法是将各加速应力水平下的试验数据等效折合为自然贮存环境下的试验数据,然后利用每个等效应力水平下的等效折合试验数据进行回归分析,得到残差序列,再利用残差序列的功率谱密度的一致性,判定试验数据的一致性。该一致性检验方法对加速试验的实施方案及其试验数据的有效性进行验证,以保证产品剩余寿命分析的有效性。
搜索关键词: 基于 估计 退化 数据一致性 检验
【主权项】:
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