[发明专利]数据校验方法、系统、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 201811015186.2 | 申请日： | 2018-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN110874275A | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 李建珍;唐亮;袁立超;鲁强;高晓青 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/54 | 分类号： | G06F9/54;H04L29/08 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦;罗朗 |
| 地址： | 100195 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数据校验方法、系统、电子设备及可读存储介质，数据校验方法包括：预设一数据校验配置文件；接收数据请求，数据请求包括待传输的业务数据；在入口控制层，基于数据校验配置文件对业务数据进行校验并生成入口控制层的校验数据；将业务数据和入口控制层的校验数据传输至应用服务层；在应用服务层，检测入口控制层的校验数据是否表征为校验通过，若是，则确认数据请求在应用服务层校验通过。本发明中业务数据通过网关传输至应用服务层的过程中，使用的同一个校验组件，在下一层级校验是优先检测业务数据是否在上一层级校验过，若有，则会跳过重复的校验，避免在不同的层级重写重复的校验内容，使得代码量大大的减少，便于维护。 | ||
| 搜索关键词： | 数据 校验 方法 系统 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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