[发明专利]适用于高压电路防静电保护的无回滞效应硅控整流器在审

专利信息
申请号: 201811014872.8 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109148441A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 朱天志 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 智云
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种适用于高压电路防静电保护的无回滞效应硅控整流器,包括:硅基衬底;N阱和P阱,设置在硅基衬底上,并在界面处设置P型重掺杂区;第一P型重掺杂区与第一N型重掺杂区,间隔设置在N阱上,并在之间设置第一浅沟槽隔离;第二P型重掺杂区与第二N型重掺杂区,间隔设置在P阱上,并在之间设置第二浅沟槽隔离;第三浅沟槽隔离,设置在第一N型重掺杂区与P型重掺杂区之间;第四浅沟槽隔离,设置在第二N型重掺杂区与P型重掺杂区之间;阳极,与第一P型重掺杂区和第一N型重掺杂区电连接;阴极,与第二P型重掺杂区与第二N型重掺杂区电连接。本发明在满足无回滞效应的功能下,实现器件版面结构之小型化,值得业界推广应用。
搜索关键词: 浅沟槽隔离 硅控整流器 高压电路 间隔设置 电连接 防静电 硅基衬 阴极 版面结构 阳极 界面处
【主权项】:
1.一种适用于高压电路防静电保护的无回滞效应硅控整流器,其特征在于,所述适用于高压电路防静电保护的无回滞效应硅控整流器(1),包括:硅基衬底(11),用于设置各功能器件;N阱(12)和P阱(13),分别设置在所述硅基衬底(11)上,并在所述N阱(12)和所述P阱(13)之界面处设置P型重掺杂区(10);第一P型重掺杂区(121)与第一N型重掺杂区(122),间隔设置在所述N阱(12)上,并在所述第一P型重掺杂区(121)与所述第一N型重掺杂区(122)之间设置第一浅沟槽隔离(120);第二P型重掺杂区(123)与第二N型重掺杂区(124),间隔设置在所述P阱(14)上,并在所述第二P型重掺杂区(123)与所述第二N型重掺杂区(124)之间设置第二浅沟槽隔离(125);第三浅沟槽隔离(126),设置在所述第一N型重掺杂区(122)与所述P型重掺杂区(10)之间;第四浅沟槽隔离(127),设置在所述第二N型重掺杂区(124)与所述P型重掺杂区(10)之间;阳极,与所述第一P型重掺杂区(121)和所述第一N型重掺杂区(122)电连接;阴极,与所述第二P型重掺杂区(123)与所述第二N型重掺杂区(124)电连接。
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