[发明专利]磁场测量系统和磁场测量方法有效

专利信息
申请号: 201811012957.2 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN110873851B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 荣星;代映秋;陈明 申请(专利权)人: 国仪量子(合肥)技术有限公司
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 哈达
地址: 230000 安徽省合肥市高新区创新大道2*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请涉及一种磁场测量系统和磁场测量方法。所述磁场测量系统包括磁场测量装置和磁场调制装置所述磁场测量装置用以测量待测静磁场的大小。所述磁场调制装置包括至少一个第一软磁体。所述第一软磁体与所述待测静磁场平行。所述第一软磁体相对于所述磁场测量装置旋转以将所述待测静磁场调制为交变磁场。通过对待测静磁场的调制将所述待测静磁场转变为高频交变磁场,再对其进行测量,从而提高了测量的灵敏度和精度。
搜索关键词: 磁场 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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