[发明专利]仪器识别方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201811001670.X | 申请日： | 2018-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN109255377A | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 唐海霞;佟华;聂梓晨;冯乐斌;李亚辉 | 申请（专利权）人： | 北京信立方科技发展股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/08;G06F16/58 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 郭新娟 |
| 地址： | 100000 北京市西城区新*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种仪器识别方法、装置、电子设备及存储介质，其中，识别方法包括：利用至少一类仪器的样本图像对初始分类模型进行模型训练，得到最终分类模型；将待识别仪器的仪器图像输入至最终分类模型，确定待识别仪器的仪器类别和仪器图像对应的第一特征向量；根据待识别仪器的仪器类别和第一特征向量，在预先建立的特征数据库中查找待识别仪器的仪器名称。本申请实施例通过将待识别仪器的仪器图像输入至最终分类模型，能够得到待识别仪器的仪器名称，达到了对仪器进行识别的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 识别仪器 分类模型 存储介质 电子设备 特征向量 图像输入 特征数据库 模型训练 样本图像 预先建立 申请 查找 图像 | ||
【主权项】：
1.一种仪器识别方法，其特征在于，包括：利用至少一类仪器的样本图像对初始分类模型进行模型训练，得到最终分类模型；将待识别仪器的仪器图像输入至所述最终分类模型，确定所述待识别仪器的仪器类别和所述仪器图像对应的第一特征向量；根据所述待识别仪器的仪器类别和所述第一特征向量，在预先建立的特征数据库中查找所述待识别仪器的仪器名称。
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