[发明专利]一种电离层VTEC扰动与雷电相关性分析方法

摘要

本发明公布了一种电离层VTEC扰动与雷电相关性分析方法，包括以下步骤：S1、电离层VTEC反演计算；S2、分析测站各卫星不同时刻的轨迹路线；S3、分析各卫星轨迹内的雷电数据，选取目标卫星；S4、提取目标卫星的电离层VTEC值；S5、计算目标卫星的电离层VTEC值的三次差值；S6、根据误差理论计算目标卫星电离层VTEC三次差值序列的上下限；S7、分时段统计目标卫星轨迹内的雷电相关参数；S8、分析太阳和地磁活动对电离层的影响；S9、分时段计算电离层VTEC序列与雷电参数序列的相关系数；S10，分析电离层VTEC扰动与雷电的相关性。本发明方法简单、计算量小，能够方便、快捷地的实现电离层VTEC扰动与雷电相关性相关性的分析，具有较高的科研和应用价值。

主权项

1.一种电离层VTEC扰动与雷电相关性分析方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、收集GNSS测站双频观测数据，进行电离层VTEC反演计算；S2、根据各卫星穿刺点经纬度及相应的时间，画图分析测站各卫星不同时刻的轨迹路线；S3、分析各卫星轨迹路线区域内的雷电数据，选择轨迹内雷电次数多的卫星作为目标卫星，选择雷电与目标卫星轨迹、时间重合的区域作为目标区域；S4、根据目标卫星的编号提取该卫星的电离层VTEC值；S5、依次对目标卫星的电离层VTEC值进行求差计算，得到电离层VTEC三次差值；S6、计算目标卫星电离层VTEC三次差值序列的均方差，根据误差理论计算目标卫星电离层VTEC三次差值序列的上下限；S7、分时段统计目标卫星轨迹内的雷电相关参数；S8、获取东京地磁台站发布的磁情指数Dst和地磁活动指数Kp，分析太阳和地磁活动对电离层的影响；S9、分时段计算目标卫星电离层VTEC序列与雷电参数序列的相关系数；S10、根据GNSS测站目标卫星轨迹的穿刺点位置、区域雷电的分布状况、电离层VTEC与雷电参数的相关系数，分析电离层VTEC扰动与雷电的相关性。