[发明专利]冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法有效
申请号: | 201810979530.3 | 申请日: | 2018-08-24 |
公开(公告)号: | CN109239545B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 周利军;王安;廖维;李会泽;陈雪骄 | 申请(专利权)人: | 西南交通大学 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R1/28 |
代理公司: | 成都盈信专利代理事务所(普通合伙) 51245 | 代理人: | 崔建中 |
地址: | 611756 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法,首先搭建实验平台,然后通过实验平台施加冲击负荷模拟套管电容芯子的热冲击,开启介损测试仪,测试电容芯子每层间的介损值,并将测试数据上传至终端机存储,采用最小二乘法将不同层间的介损值拟合为一条函数曲线,对函数曲线分段积分,计算电容芯子总体的不均匀热老化程度参数,该实验方法模拟了冲击负荷下套管电容芯子的不均匀热老化,并可有效判定套管电容芯子的不均匀热老化程度。 | ||
搜索关键词: | 电容芯子 不均匀 冲击负荷 老化 下套管 函数曲线 实验平台 层间 芯子 测试数据上传 最小二乘法 测试电容 程度参数 模拟套管 有效判定 测试仪 热冲击 终端机 拟合 套管 分段 存储 施加 | ||
【主权项】:
1.冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步:搭建实验平台搭建冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化实验平台,包括绝缘油箱(1)、第一支架(6a)、第二支架(6b)、测试端子(5)、电容芯子(4)、冲击电流发生装置(7)、介损测试仪(8)、终端机(11)、电动机(13),绝缘油箱(1)底部铺有第一冷却管(9),第一冷却管(9)两端分别有第一冷却箱(10a)和第二冷却箱(10b),第一冷却箱(10a)和第二冷却箱(10b)内的冷水(14)由电动机(13)推动,冷水(14)由第二冷却管(12)流经第一冷却箱(10a)、第一冷却管(9)和第二冷却箱(10b),回到第二冷却管(12),电动机(13)连至终端机(11),接受终端机(11)发送的控制指令,绝缘油箱(1)内填充绝缘油(2),油面高度超过电容芯子(4),电容芯子(4)由第一支架(6a)和第二支架(6b)固定在绝缘油箱(1)内,冲击电流发生装置(7)连至终端机(11),终端机(11)发送控制指令至冲击电流发生装置(7),冲击电流发生装置(7)连在导杆(3)两端,给导杆(3)施加冲击电流,电容芯子(4)每层电容屏之间焊接测试端子(5),测试端子(5)连至介损测试仪(8),介损测试仪(8)接至终端机(11);第二步:模拟冲击负荷下的套管电容芯子开启冲击电流发生装置(7),对套管电容芯子(4)施加冲击电流,模拟冲击负荷的热效应,终端机(11)控制电动机(13)使第二冷却管(12)内的冷水(14)流通,从而模拟套管电容芯子在冲击负荷下频繁升降温的实际工况;第三步:测试工频介损开启介损测试仪(8),测试电容芯子(4)相邻两层电容屏间的介质损耗正切值tanδ,并将测试数据上传至终端机(11)并以(i,tanδi)形式存储,表示电容芯子第i层间的介质损耗正切值为tanδi,i=1,2,…,n,n为电容芯子(4)层数;第四步:拟合介质损耗正切值通过非线性最小二乘法进行拟合,进而得到介质损耗正切值的拟合曲线f(x),其中1≤x≤n,n为电容芯子(4)层数;第五步:计算电容芯子热老化不均匀程度计算f(i)与f(i+1)间的积分Si、f(i+1)与f(i+2)间的积分Si+1,分别表示电容芯子(4)第i层与第i+1层的老化程度:![]()
计算两积分的差值ΔSi:ΔSi=Si+1‑Si (3)电容芯子总体不均匀热老化程度H进行计算,公式如下:
式中,ΔS0=min{|ΔS1|,|ΔS2|…|ΔSn‑2|,|ΔSn‑1|}。
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