[发明专利]获取饱和带的参数的方法、波谱成像方法、系统和介质有效

专利信息
申请号: 201810973257.3 申请日: 2018-08-24
公开(公告)号: CN109330594B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 周晓东 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 孙岩
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种获取饱和带的参数的方法、磁共振波谱扫描成像方法、磁共振系统和计算机可读存储介质。上述获取饱和带的参数的方法,通过获取磁共振图像,并进一步获取脂肪区域和感兴趣区域,再通过生成饱和带,使得饱和带能覆盖脂肪区域,最后获取饱和带的参数。大大减少了饱和带的生成难度,简化了获取饱和带的参数的步骤,从而降低了医生的工作量,提高了医生的工作效率。
搜索关键词: 获取 饱和带 参数 方法 波谱 成像 系统 介质
【主权项】:
1.一种获取饱和带的参数的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待扫描部位的磁共振图像,所述磁共振图像包含脂肪区域;获取所述待扫描部位的感兴趣区域;基于所述感兴趣区域生成饱和带,所述饱和带至少覆盖所述脂肪区域的一部分;获取所述饱和带的参数;其中,所述饱和带的参数用于使磁共振系统对所述待扫描部位进行磁共振扫描。
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