[发明专利]超导基带表面缺陷检测系统及其检测方法在审
| 申请号： | 201810934446.X | 申请日： | 2018-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN108827978A | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 夏金成;陆玲;周国山;沈玉军;张利华;熊旭明;程鹏;陈慧娟;蔡渊 | 申请（专利权）人： | 东部超导科技（苏州）有限公司;苏州新材料研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892 |
| 代理公司： | 苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙) 32277 | 代理人： | 周媛媛;王雅群 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超导基带表面缺陷检测系统，包括，光源，其输出激光并照射至超导基带的待检测表面；图像采集单元，其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像；图像处理单元，其接收图像采集单元输出的反射光图像，对所述反射光图像进行处理，输出超导基带的表面缺陷程度。本发明的超导基带表面缺陷检测系统，用于超导基带抛光前后对其进行表面缺陷程度的非接触式无损伤、在线、长距离、连续检测，为下道生产工艺提供可靠的基带表面质量报告，提高生产高温超导带材的合格率；同时，还可以用于确定原带质量对抛光效果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基带表面 缺陷检测系统 反射光图像 基带 待检测表面 表面缺陷 高温超导带材 图像采集单元 图像处理单元 采集单元 非接触式 接收图像 连续采集 连续检测 抛光效果 输出激光 输出 抛光 无损伤 生产工艺 反射 光源 照射 激光 合格率 检测 生产 | ||
【主权项】：
1.一种超导基带表面缺陷检测系统，其特征在于：包括，光源，其输出激光并照射至超导基带的待检测表面；图像采集单元，其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像；图像处理单元，其接收图像采集单元输出的反射光图像，对所述反射光图像进行处理，输出超导基带的表面缺陷程度。
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