[发明专利]基于局部与结构约束低秩表示的高光谱分类方法有效

专利信息
申请号: 201810919458.5 申请日: 2018-08-14
公开(公告)号: CN109190511B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 王琦;李学龙;何翔 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 常威威
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种基于局部与结构约束低秩表示的高光谱分类方法。首先,对输入高光谱图像进行规范化处理;然后,构建得到基于局部与结构约束低秩表示的目标函数;接着,使用增广拉格朗日乘子法和交替迭代更新算法求解目标函数,得到低秩分解矩阵;最后,利用低秩分解矩阵计算每个测试像素的类别标签,完成高光谱图像分类。本发明方法可适用于具有不同类别像素紧密程度的高光谱图像,对噪声和异常点具有较好的鲁棒性,并且能显著提高分类精度。
搜索关键词: 基于 局部 结构 约束 表示 光谱 分类 方法
【主权项】:
1.一种基于局部与结构约束低秩表示的高光谱分类方法,其特征在于步骤如下:步骤1:利用线性的min‑max规范化方法对高光谱图像数据进行规范化处理,得到规范化后的高光谱图像矩阵X,其中,X中的每一列为一个像素的光谱向量,每个像素的光谱反射值均处于0到1之间;步骤2:基于局部约束和结构保持准则,建立如下局部与结构约束低秩表示的目标函数:其中,Z为低秩分解矩阵,E为误差矩阵,λ为误差项正则系数,λ≥0,α为局部约束项正则系数,α≥0,β为结构约束项正则系数,β≥0;M为距离矩阵,Q为预定义矩阵;规范化后的高光谱图像X可分成训练集和测试集两部分,即为训练集矩阵,为测试集矩阵,所述的训练集是从每类像素中选取5%‑15%的像素组成,测试集是由除训练集之外的剩下的高光谱像素组成,Q和Z都也可按这种方式分成训练集和测试集两部分,即距离矩阵M中的每个元素按照计算得到,xi和xj分别表示规范化后的高光谱图像X中第i个和第j个像素的光谱向量,li和lj分别表示规范化后的高光谱图像X中第i个和第j个像素的空间坐标向量,m为平衡光谱特征和空间特征的参数,m≥0,i=1,…,n1,j=1,…,n,n1为训练集X中像素点的个数,n为规范化后的高光谱图像X中像素点的总个数;预定义矩阵Q中的每个元素按照计算得到,其中,σ为用于控制相邻像素点个数的参数,σ≥0,i=1,…,n1,j=1,…,n;||·||*是矩阵的核范数,即为矩阵所有奇异值的和,||·||2,1是L2,1范数,计算方法为d为高光谱图像中像素光谱向量的维数,||·||1是矩阵的L1范数,即为矩阵所有元素绝对值的和,||·||F是矩阵的Frobenius范数,即为矩阵所有元素平方和的平方根,是Hadamard运算符,表示两个矩阵对应位置元素相乘;步骤3:引入辅助变量H和J,利用增广拉格朗日乘子法,将公式(1)转换为:其中,<A,B>=trace(ATB),trace表示矩阵的迹操作,μ是惩罚因子,μ>0,Y1、Y2和Y3是拉格朗日乘子;再利用交替迭代更新算法分别求解得到H、J、Z、E的最优解,具体为:步骤3.1:初始化λ=20,α=0.8,β=0.6,Y1k=Y2k=Y3k=0,Hk=Jk=Zk=Ek=0,μk=10‑6,其中,上标k均表示迭代次数,初始时k=1;步骤3.2:固定J、Z和E,按以下公式更新H中的元素:其中,Θ(x)=max(x‑ω,0)+min(x+ω,0),ω中的元素ωij=(α/μk)Mij,i=1,…,n1,j=1,…,n;步骤3.3:固定H、Z和E,按以下公式更新J:其中,UΣVT的奇异值分解,步骤3.4:固定H、J和E,按以下公式更新Z:其中,I是单位矩阵,Ak=X‑Ek+Y1kk步骤3.5:固定H、J和Z,按以下公式更新E的每一列:其中,是矩阵Gk的第i列,i=1,…,n;步骤3.6:按以下公式更新惩罚因子:μk+1=max(ρμk,maxμ)  (7)其中,maxμ是μ的最大设定值,设置为maxμ=1010,ρ为步长控制参数,取值范围为1≤ρ≤2;然后,按以下公式分别更新拉格朗日乘子:步骤3.7:如果同时满足||Zk+1‑Jk+1||<ε和||Hk+1‑Zk+1||<ε则迭代停止,此时计算得到的H、J、Z、E即为最终解;否则,迭代次数k=k+1,返回步骤3.2;其中,||·||表示矩阵的L范数,即矩阵的最大元素值与列数的乘积,ε是误差限制参数,设置为ε=10‑4;步骤4:按照计算测试集像素xj的类别标签;其中,为矩阵的第j列中属于类别l的元素之和,c是高光谱图像像素的类别总数,j=1,…n2,n2为测试集中的像素点个数。
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