[发明专利]基于多维融合及语义分割的电子器件缺陷检测方法及装置有效
| 申请号： | 201810909279.3 | 申请日： | 2018-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN109087274B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 屈桢深;李瑞坤;徐超凡 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06T5/50 | 分类号： | G06T5/50;G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/30 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11473 | 代理人： | 闫冬;吴航 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于多维融合及语义分割的电子器件缺陷检测方法及装置，所述电子器件缺陷检测方法包括：步骤a，获取所述电子元器件外观的二维图像数据及三维点云数据；步骤c，对所述二维图像数据及所述三维点云数据进行配准处理，构建多通道复合图像；步骤d，通过语义分割网络对所述多通道复合图像进行缺陷检测和分类；所述电子器件缺陷检测装置包括对应的获取单元，复合单元和语义分割单元。通过语义分割网络进行缺陷检测，能够利用大量的样本数据，通过卷积的手段从多个层次提取待测缺陷的特征，从而为缺陷的检测和分类提供丰富而可靠的依据，提升检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 多维 融合 语义 分割 电子器件 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.基于多维融合及语义分割的电子器件缺陷检测方法，其特征在于，包括：步骤a，获取电子元器件外观的二维图像数据及三维点云数据；步骤c，对所述二维图像数据及所述三维点云数据进行配准处理，构建多通道复合图像；步骤d，通过语义分割网络对所述多通道复合图像进行缺陷检测和分类。
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