[发明专利]一种非接触粉末湿膜测厚仪有效
申请号: | 201810868630.9 | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN108801194B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 曾玉灵 | 申请(专利权)人: | 广州市盛华实业有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 宋平 |
地址: | 510000 广东省广州市广州经济技*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种非接触粉末湿膜测厚仪,包括基座、红外探测装置和激光发射装置,基座上镶嵌式安装有激光发射装置,激光发射装置旁边设置有红外探测装置,激光发射装置旁边设置有可见光光源,激光发射装置包括激光发射器,激光发射器下部外侧安装有位置调节套筒,激光发射器下部内侧安装有聚光透镜二,红外探测装置包括红外线探头,红外线探头顶部焊接有电源接线柱,电源接线柱穿过活动限位块和探头限位座,红外线探头位于探头限位座下侧,探头限位座通过过盈配合安装在密封罩上,密封罩底部内侧通过凹槽安装有聚光透镜一。有益效果在于:测量精度高、测量距离可较远;且由于测量头无需与样件垂直,测量条件易满足,因此更便于操作和使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 粉末 测厚仪 | ||
【主权项】:
1.一种非接触粉末湿膜测厚仪,其特征在于:包括基座、红外探测装置和激光发射装置,所述基座上镶嵌式安装有所述激光发射装置,所述激光发射装置旁边设置有所述红外探测装置,所述红外探测装置通过过盈配合固定在所述基座上,所述激光发射装置旁边设置有可见光光源,所述可见光光源通过过盈配合固定在所述基座上,所述激光发射装置包括激光发射器,所述激光发射器下部外侧安装有位置调节套筒,所述激光发射器下部内侧安装有聚光透镜二,所述聚光透镜二通过凹槽固定在所述激光发射器内壁上,所述红外探测装置包括红外线探头,所述红外线探头顶部焊接有电源接线柱,所述电源接线柱穿过活动限位块和探头限位座,所述红外线探头位于所述探头限位座下侧,所述探头限位座通过过盈配合安装在密封罩上,所述密封罩底部内侧通过凹槽安装有聚光透镜一,所述激光发射装置外侧设置有激光调节装置,所述激光调节装置位于所述基座上侧,所述基座底部通过胶接安装有高透光滤光板。
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