[发明专利]一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法在审

专利信息
申请号: 201810849332.5 申请日: 2018-07-28
公开(公告)号: CN109143049A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 高灿辉;章宁;曾垒;吴日成;彭文蕾;胡猛 申请(专利权)人: 国营芜湖机械厂
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 24100*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法,包括搭建继电器控制电路获取被测继电器理论动作次数和提供继电器动作激励信号,搭建触点检测电路获取继电器有效闭合次数,搭建振动检测光路,使用光纤光栅应变传感器监测继电器动作时的微小振动变化判断继电器实际动作次数,综合各参数对继电器完成寿命评估及寿命影响因素推测。本发明解决了单一接触电阻参数判断继电器失效的方法中存在的弊端,通过振动检测系统和触点检测电路对继电器的动作情况和触点的有效闭合情况进行同时监测,在准确评估继电器寿命的同时,可判断影响继电器寿命的失效因素。
搜索关键词: 继电器 寿命评估 联合检测技术 电磁继电器 继电器动作 继电器寿命 触点检测 有效闭合 电路 光纤光栅应变传感器 继电器控制电路 振动检测系统 被测继电器 变化判断 单一接触 电阻参数 激励信号 失效因素 实际动作 寿命影响 微小振动 振动检测 准确评估 监测 触点 光路
【主权项】:
1.一种基于光电联合检测技术的电磁继电器寿命评估方法,其特征在于,包括步骤:a)搭建继电器控制电路;b)搭建触点检测电路;c)搭建振动检测光路;d)寿命评估及寿命影响因素推测。
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