[发明专利]辐射环境评价系统以及辐射环境评价方法有效
| 申请号： | 201810846040.6 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109387286B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 三浦真由美;上田悠 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明的辐射环境评价系统以及辐射环境评价方法降低平均辐射温度评价的实质性运行成本，而且还降低工程成本。本发明规定评价单位空间(U)和内在的评价位置(P)，针对该评价单位空间(U)的每一周围边界面(N)来求对应于评价位置(P)的形态系数(F |
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| 搜索关键词： | 辐射 环境 评价 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种辐射环境评价系统，其特征在于，具备：形态系数存储部，其将预先规定的大小的空间设为评价单位空间，针对该评价单位空间的周围的每一边界面而存储对应于所述评价单位空间内的评价位置的形态系数；温度信息获取部，其获取辐射环境的评价对象空间的物理边界面的表面温度或者所述评价对象空间内的空气温度作为温度信息；获取温度信息管理部，其对于所述评价对象空间内配置的所述评价单位空间即配置空间的周围的边界面当中与所述评价对象空间的物理边界面接触的边界面，将该物理边界面的表面温度作为边界面温度信息，对于与所述评价对象空间的物理边界面不接触的边界面，将该配置空间内的空气温度作为边界面温度信息，并针对每一所述配置空间来管理并存储由所述温度信息获取部获取到的温度信息；以及平均辐射温度运算部，其根据所述获取温度信息管理部中存储的每一所述配置空间的边界面温度信息和所述形态系数存储部中存储的所述评价单位空间的每一边界面的形态系数，针对每一所述配置空间来算出该配置空间内的评价位置的平均辐射温度。
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