[发明专利]一种半导体开关触发保护试验的测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201810844299.7 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN109188259A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 张秀青;高格;傅鹏;宋执权;汤伦军;郑志云;王琨;仝伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体开关触发保护试验的测试电路及测试方法。本发明利用变流器逆变触发外旁通为负载电流提供续流回路，待外旁通承受负载电流的时间满足要求后，再令变流器重新工作于整流模式，变流器的输出电流逐渐增大,旁通电流逐渐下降,负载电流再由外旁通转移至变流器。在外旁通触发导通后，本发明在不借助外部机械开关的情况下，通过改变变流器的触发角，令变流器再次工作于整流模式，将已经转移到外旁通的负载电流转回变流器，实现了模拟ITER外旁通实际运行情况对外旁通进行触发可靠性和运行安全性的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 变流器 旁通 负载电流 触发 半导体开关 保护试验 测试电路 整流模式 测试 触发导通 机械开关 旁通电流 输出电流 续流回路 逐渐下降 逐渐增大 触发角 逆变 外部 | ||
【主权项】：
1.一种半导体开关触发保护试验的测试电路，其特征在于：包括有自耦变压器T1和变流器单元，所述的变流器单元包括有整流变压器T2、由变流器CU1、变流器CU2、变流器CU3、变流器CU4四个三相桥式六脉波变流器并联构成的变流器模块、直流电抗器L1、直流电抗器L2、直流电抗器L3、直流电抗器L4、直流隔离开关DS和外旁通BP，所述的自耦变压器T1的输入端连接110V电网，输出端连接整流变压器T2的输入端，整流变压器T2的输出端分别与变流器CU1、变流器CU2、变流器CU3、变流器CU4连接，所述的外旁通BP并联在变流器模块的两端，在变流器模块的两端还并联有假负载Ld，在变流器模块与假负载Ld之间连接有所述的直流隔离开关DS。
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