[发明专利]基于雪崩光电二极管阵列芯片的大动态范围弱光探测系统有效

专利信息
申请号: 201810830552.3 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN109100018B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 邓仕杰;张文涛;苑立波 申请(专利权)人: 传周半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J1/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201306 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供的是一种基于雪崩光电二极管阵列芯片的大动态范围弱光探测系统。其特征是:系统是由偏压发生器模块201、偏压控制模块202、雪崩光电二极管阵列芯片203、光源204、和信号读出和处理系统205组成。本发明可广泛用于极微弱光测量如激光测距,DNA测序,量子密匙分配,激光雷达以及医学成像等领域。
搜索关键词: 基于 雪崩 光电二极管 阵列 芯片 动态 范围 弱光 探测 系统
【主权项】:
1.一种基于雪崩光电二极管阵列芯片的大动态范围弱光探测系统。其特征是:它由偏压发生器模块1、偏压控制模块2、雪崩光电二极管阵列芯片3、光源4、和信号读出和处理系统5组成。所述系统中偏压发生器模块1产生高电压,并通过偏压控制模块2输出雪崩光电二极管阵列芯片3中各个光电二极管所需的反向偏置电压,偏压控制模块2有多个输出控制模块分别用于控制每个输出电压,其输出电压的数量与雪崩光电二极管阵列芯片3中雪崩光电二极管的数目相同;雪崩光电二极管阵列芯片3中的光电二极管被偏压控制模块2的输出电压偏置于不同的工作状态,用于探测从光源4发出的不同强度的入射光;雪崩光电二极管阵列芯片3中各个雪崩光电二极管的输出连接至信号读出和处理系统5,信号读出和处理系统5对雪崩光电二极管阵列芯片3中各个光电二极管的输出信号进行读出和处理,最后给出测量结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于传周半导体科技(上海)有限公司,未经传周半导体科技(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810830552.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top