[发明专利]盘装置及介质扫描方法有效
| 申请号： | 201810817113.9 | 申请日： | 2018-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110289023B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 濑川诚;多和田冬辉;吉田纪 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 万利军;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 实施方式提供能够减少介质扫描所需要的耗电并且能够提高缺陷检测精度的盘装置及介质扫描方法。实施方式的盘装置具备：盘；读取/写入单元，其对所述盘的记录区域进行数据的读取/写入处理；以及扫描单元，其进行以轨道为单位来检测所述盘的记录区域中的扇区有无缺陷的扫描处理。所述扫描单元具有跳过处理，所述跳过处理是在对排列于所述轨道的第1扇区、第2扇区、以及配置在所述第1扇区与所述第2扇区之间的第3扇区执行所述扫描处理时扫描所述第1扇区和所述第2扇区而不扫描所述第3扇区的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 介质 扫描 方法 | ||
【主权项】：
1.一种盘装置，其具备：盘；读取/写入单元，其对所述盘的记录区域进行数据的读取/写入处理；以及扫描单元，其进行以轨道为单位来检测所述盘的记录区域中的扇区有无缺陷的扫描处理，所述扫描单元具有跳过处理，所述跳过处理是下述处理：在对排列于所述轨道的第1扇区、第2扇区、以及配置在所述第1扇区与所述第2扇区之间的第3扇区执行所述扫描处理时，扫描所述第1扇区和所述第2扇区而不扫描所述第3扇区。
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