[发明专利]液晶屏光学性能的测试方法、装置和存储介质在审

专利信息
申请号: 201810809358.7 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN109001922A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 黄坚顺;林健源 申请(专利权)人: 深圳TCL新技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 张志江
地址: 518052 广东省深圳市南山区中*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种液晶屏光学性能的测试方法、装置和存储介质。包括如下步骤:在连接待测试液晶屏时,获取光学性能测试指令,并根据光学性能测试指令控制待测试液晶屏显示预设的背景色;获取色彩分析仪的测试需求指令,根据测试需求指令调整液晶屏的背景色;向色彩分析仪发送测试控制指令,以使得色彩分析仪根据测试控制指令对待测试液晶屏显示图像进行光学测试,获得待测试液晶屏的光学特性数据;接收色彩分析仪反馈的光学特性数据,并根据光学特性数据完成待测试液晶屏的光学性能测试。本发明解决了现有液晶屏测试技术中测试速度慢,效率太低的问题,能高效的完成对液晶屏光学性能的测试,提高测试速度。
搜索关键词: 测试液晶 液晶屏 光学特性数据 光学性能测试 色彩分析仪 测试 光学性能 测试控制指令 测试需求指令 存储介质 背景色 屏显示图像 测试技术 光学测试 色彩分析 指令控制 屏显示 预设 发送 指令 反馈
【主权项】:
1.一种液晶屏光学性能的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:在连接待测试液晶屏时,获取光学性能测试指令,并根据所述光学性能测试指令控制所述待测试液晶屏显示预设的背景色;获取色彩分析仪的测试需求指令,根据所述测试需求指令调整所述液晶屏的背景色;向所述色彩分析仪发送测试控制指令,以使得所述色彩分析仪根据所述测试控制指令对所述待测试液晶屏显示图像进行光学测试,获得所述待测试液晶屏的光学特性数据;接收色彩分析仪反馈的光学特性数据,并根据光学特性数据完成所述待测试液晶屏的光学性能测试。
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