[发明专利]一种基于单强度测量的两步相位恢复方法、设备及系统有效
申请号: | 201810743862.1 | 申请日: | 2018-07-05 |
公开(公告)号: | CN109060122B | 公开(公告)日: | 2021-02-12 |
发明(设计)人: | 张成;王美琴;陈倩文;汪东;韦穗 | 申请(专利权)人: | 安徽大学 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 奚华保 |
地址: | 230601 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于单强度测量的两步相位恢复方法、设备及系统,属于光学成像技术领域,包括对2D复光场的振幅和相位进行初始化,得到初始化空间振幅A |
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搜索关键词: | 一种 基于 强度 测量 相位 恢复 方法 设备 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于单强度测量的两步相位恢复方法,其特征在于,其用于对图像传感器捕获的2D复光场的强度信息进行处理,图像传感器设置在透镜的后焦面,透镜的前焦面设置2D编码孔径M,该方法包括:对2D复光场的振幅和相位进行初始化,得到初始化空间振幅A1和初始化相位
根据初始化空间振幅A1和初始化相位
合成复振幅g(x,y);对复振幅g(x,y)进行傅里叶变换、傅里叶逆变换的循环迭代,得到2D编码孔径平面上复光场在空间域的振幅估计值;基于双强度相位恢复算法,对空间域的振幅信息和测量得到的频域振幅信息进行处理,恢复2D编码孔径平面上复光场在空间域的相位。
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