[发明专利]一种等离子体复介电常数瞬态微波反射测量方法及装置有效
| 申请号： | 201810734311.9 | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN108872267B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 唐璞;李路同;蒋碧瀟;胡皓全;陈波;何子远;田径 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 甘茂 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于等离子诊断技术领域，涉及微波测量技术，具体提供一种等离子体复介电常数瞬态微波反射测量方法及装置，本发明测量装置基于激波管实验平台，其测量方法通过校准与对消技术对接收的反射信号进行处理得到激波管壁表面的真实反射系数，移除测试系统自身反射信号的影响；再利用得到的激波管壁表面反射系数反推激波管内等离子体复介电常数变化；同时，针对激波管壁反射系数反推等离子体复介电常数的函数存在多值性问题，本发明利用等离子体在短时间内复介电常数线性变化的近似解决该问题，从而有效实现等离子体复介电常数瞬态测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 等离子体 介电常数 瞬态 微波 反射 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种等离子体复介电常数瞬态微波反射测量装置，包括信号源、对消分机、接收机、工控机、透镜、喇叭天线、激波管及两个微波暗室；其特征在于，所述喇叭天线与透镜设置于第一微波暗室中，所述信号源输出信号经过对消分机激励喇叭天线发射微波，所述微波经过透镜作用于激波管内等离子体；所述等离子体部分透射、部分反射，所述透射波进入第二微波暗室、并被吸收；所述反射波沿原路径返回被喇叭天线接收、并经过对消分机到达接收机，所述工控机对接收机信号进行测量及数据处理、并输出等离子体复介电常数。
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