[发明专利]红外焦平面探测器多芯测试装置及测试方法

摘要

本发明提供一种红外焦平面探测器多芯测试装置及测试方法，包括密闭的壳体，壳体内部从上至下依次设置面源黑体、孔板、接口板、温度控制组件，孔板上设有光阑孔，接口板上设有探测器固定座，壳体外部设有模块化仪器、计算机和黑体控制器，本发明减少测试数据采集时不必要的外界因素干扰，可提高测试效率，通过控制辐射源温度和温控板温度，达成不同的辐射源温度和接口板环境温度组合，能够精确的反映出温度对整个测试系统和最终测试参数的影响，采用模块化仪器提供驱动信号和采集数据，能够有效地控制系统噪声，来获得可靠性高、精确度好的测试结果，一次测试多颗探测器，可以提高测试效率。

主权项

1.一种红外焦平面探测器多芯测试装置，其特征在于：包括密闭的壳体(9)，壳体(9)内部从上至下依次设置面源黑体(1)、孔板(2)、接口板(3)、温度控制组件，面源黑体(1)的辐射面、孔板(2)、接口板(3)相互平行，孔板(2)上设有多个光阑孔(10)，接口板(3)上设有多个用于固定探测器(12)的探测器固定座(11)，探测器固定座(11)两侧设有模块化仪器(6)的信号接口(13)，光阑孔(10)和探测器固定座(11)的数量相同，且每个光阑孔(10)和探测器固定座(11)的中心位置上下对应，光阑孔(10)的直径不小于每个探测器(12)的焦平面阵列尺寸、且不大于探测器(12)的上表面尺寸，面源黑体(1)的辐射面发出的热辐射透过光阑孔(10)照射到探测器(12)上，壳体(9)外部设有模块化仪器(6)、计算机(8)和黑体控制器(7)，模块化仪器(6)用于驱动接口板(3)上的探测器(12)，计算机(8)通过模块化仪器(6)采集不同辐射温度下的探测器(12)的电信号数据；温度控制组件用于控制壳体内部环境温度，黑体控制器(7)用于控制面源黑体(1)的辐射温度。