[发明专利]SERS单元及SERS系统在审
| 申请号： | 201810677125.6 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN108872192A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 郭清华;孙海龙 | 申请（专利权）人： | 苏州天际创新纳米技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;C25D11/02;C25D11/04;B82Y30/00 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 汪青 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SERS单元、SERS芯片以及SERS检测系统，SERS单元包括基材和多个纳米粒子聚集体，基材包括由第一材料构成的第一层、设置在第一层上方且由第二材料构成的第二层，第二层的上表面分布有多个纳米凹陷部；每一个纳米粒子聚集体由多个纳米粒子聚集形成，且每一个纳米粒子聚集体分别被一对应的纳米凹陷部所限制。本发明的SERS单元及SERS芯片具有高SERS活性（EF~108），高均匀性（任意1μm2点误差<10%），极佳的稳定性（>1年）和批次重现性（误差<15%）等优点，可广泛应用于物质的痕量分析或生物分子的检测，同时该SERS单元及芯片制备简单，能大面积、大规模生产。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米粒子 聚集体 凹陷部 第一层 基材 芯片 第二材料 第一材料 高均匀性 痕量分析 检测系统 生物分子 芯片制备 上表面 重现性 检测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种SERS单元，其特征在于包括：基材，其包括由第一材料构成的第一层、设置在所述第一层上方且由第二材料构成的第二层，所述第二层的上表面分布有多个纳米凹陷部；多个纳米粒子聚集体，每一纳米粒子聚集体由多个纳米粒子聚集形成，且每一纳米粒子聚集体分别被一对应的纳米凹陷部所限制。
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