[发明专利]一种电流导引型VCSEL及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810673115.5 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN108539577A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 王智勇;周广正;李颖;兰天 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/187;H01S5/323;H01S5/343
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 张立改
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种电流导引型VCSEL及其制备方法,属于半导体技术领域。所述的VCSEL包括一导电GaAs衬底、n型GaAs缓冲层、n型AlGaAs/AlAs的DBR、AlGaAs下限制层、多量子阱发光区、AlGaAs上限制层、一次外延p型AlGaAs/AlAs的DBR、质子注入栅格结构、二次外延p型AlGaAs/AlAs的DBR、p型GaAs欧姆接触层、n面电极和p面电极。所述的质子注入栅格结构包含3‑5对DBR厚度,既能提供有效的电流和增益限制,又能很好的控制质子注入深度;质子注入栅格宽度由中心向两边递减,整体光增益分布与单横模高斯分布相匹配,实现稳定地单横模激射。
搜索关键词: 质子 电流导引型 栅格结构 单横模 制备 半导体技术领域 多量子阱发光区 高斯分布 上限制层 下限制层 一次外延 光增益 导电 衬底 栅格 递减 匹配 两边
【主权项】:
1.一种电流导引型VCSEL,其特征在于,自下而上依次包括一导电GaAs衬底、n型GaAs缓冲层、n型AlGaAs/AlAs的DBR、AlGaAs下限制层、多量子阱发光区、AlGaAs上限制层;在AlGaAs上限制层为一次外延p型AlGaAs/AlAs的DBR和质子注入栅格结构交叉间隔排列组合;在一次外延p型AlGaAs/AlAs的DBR和质子注入栅格结构交叉间隔排列组合上依次为二次外延p型AlGaAs/AlAs的DBR、p型GaAs欧姆接触层;在导电GaAs衬底的背面设有n面电极,在p型GaAs欧姆接触层上设有p面电极。
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