[发明专利]一种基于超连续激光器构建的多模式全光谱暗场显微镜及其应用有效

专利信息
申请号: 201810661599.1 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN108873283B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 樊春海;王丽华;李嘉隽;刘磊 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/10;G02B21/36
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种多模式全光谱暗场显微镜,其具有相互平行的第一光轴,在该光轴上同轴依次排布有光源、空间滤波系统、第一中孔反射镜和凹面反射镜;和第二光轴,在该光轴上同轴依次排布有扫描系统、物镜、第二中孔反射镜和光谱仪;第一中孔反射镜和第二中孔反射镜之间的光路设有相位传递系统。本发明还提供该显微镜的多种应用,其基于LSPR建立暗场成像光路,以实现聚焦照明模式;通过凹面反射镜和两中孔反射镜的设置增加了一条光路以实现光片照明模式,可同时实现光片照明模式暗场成像功能。
搜索关键词: 一种 基于 连续 激光器 构建 模式 光谱 暗场 显微镜 及其 应用
【主权项】:
1.一种多模式全光谱暗场显微镜,其特征在于,其具有相互平行的第一光轴(I),沿该光轴(I)具有光路的第一方向(100),且沿该第一方向(100)在该光轴上同轴依次排布有光源(1)、空间滤波系统(2)、第一中孔反射镜(ID1)和凹面反射镜(CM);和第二光轴(II),沿该光轴(II)具有与第一方向(100)相反的光路的第二方向(200),且沿该第二方向(200)在该光轴上同轴依次排布有扫描系统(4)、物镜(W)、第二中孔反射镜(ID2)、第二滤片(M2)和光谱仪(A);所述第一中孔反射镜(ID1)和第二中孔反射镜(ID2)之间的光路垂直于第一光轴(I)和第二光轴(II)且设有相位传递系统(3)。
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