[发明专利]一种多晶硅铸锭生长控制方法及工艺有效

专利信息
申请号: 201810635113.7 申请日: 2018-06-15
公开(公告)号: CN108425148B 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 宋帅迪;王强;张振娟;章国安 申请(专利权)人: 南通大学
主分类号: C30B28/06 分类号: C30B28/06;C30B29/06
代理公司: 南京同泽专利事务所(特殊普通合伙) 32245 代理人: 蔡晶晶
地址: 226000*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种多晶硅铸锭生长控制方法及工艺,坩埚顶部和底部之间的温度差作为一个新引入的参数△t进行控制多晶硅铸锭生长工艺的长成,铸锭制备工艺过程中,曲线△t先增加后减小,再增加最后降到0,当△t峰值达到最大时,坩埚中的硅料开始熔化,直到硅料完全熔化时,△t会出现一个极小值的尖契,△t尖契的温度不可低于160℃,一旦低于这个温度,坩埚底部的籽晶层会出现熔穿现象,导致红区升高,同时坩埚边角处的红区会沿坩埚壁向上延伸,△t峰值判断法,可以作为硅锭铸锭过程的判断依据,并提供一种多晶硅铸锭生长工艺,本发明优点降低多晶硅中红区厚度,提高多晶硅的质量,提高多晶硅的利用效率,降低成本。
搜索关键词: 一种 多晶 铸锭 生长 控制 方法 工艺
【主权项】:
1.一种多晶硅铸锭生长控制的控制方法,其特征在于:根据热传导原理,利用坩埚上下温度差变化作为控制铸锭过程的依据,当△t达到极大值时,坩埚中的硅料从整体加热开始进入熔化状态,此时的热传递方式从固体的热传导,逐渐的向融体的热对流变化,顶部的硅料熔化后逐渐向下渗透,将顶部的热量带入底部,提高了底部的温度,从而△t逐渐减小,由于硅融体的密度大于硅晶体的密度,当部分的硅熔化后,剩余未熔化的晶体将始终位于硅融体的顶部,此时△t基本保持不变,待硅料全部熔化后,△t又有所上升,即为硅料完全熔化,此时应开始进入结晶阶段,并停止加热,当硅锭开始结晶时,随着结晶潜热的释放,大大提高了籽晶层的温度,此时出现了△t的最小极值尖契,随着隔热笼的提升,多晶硅锭逐渐从底部向上生长,由于顶部融体的温度不变,△t逐渐增大,当硅锭完全结晶后,△t基本保持不变,最后△t随着自然冷却逐渐减小到0。
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